Специалистами компании ООО "Совтест АТЕ" завершены пуско-наладочные работы и внедрение тестового решения для одного из Заказчиков центрального региона. Данное решение предназначено для тестирования полупроводниковых пластин до 300 мм. 
Тестовое решение представляет собой тестер микросхем производства компании Teradyne (США) и автоматическую зондовую установку для тестирования 300-миллиметровых полупроводниковых пластин, производства компании Accretech (Япония). В состав поставленного решения также входит набор необходимой оснастки для механического и электрического сопряжения тестера с зондовой установкой.
Автоматическая
зондовая установка UF3000 отличается высокой точностью позиционирования (± 1 мкм) и высокой производительностью. Применение данного решения позволит Заказчику обеспечить высокое качество выпускаемой продукции и требуемый ритм производства. Для более подробной информации предлагаем ознакомиться со сравнительной таблицей
автоматических зондовых станций производства Accretech.
Оригинал статьи находится по ссылке: http://www.sovtest.ru/news/company-news/reshenie-dlya-testirovaniya-poluprovodnikovykh-plastin-ot-kompaniy-accretech-i-teradyne/
