Отправляет email-рассылки с помощью сервиса Sendsay

Сибирская секция IEEE

  Все выпуски  

Сибирская секция IEEE





N 1479 24 января 2014 г. Сибирская секция IEEE
http://ieee.tpu.ru Вступайте в IEEE - это ХОРОШЕЕ общество!
======================================================================
Международный журнал томографии и моделирования (IJTS)

ISSN: 2319-3336
http://www.ceser.in/ijts.html

Цели и область

Главная цель Международного журнала томографии и моделирования (IJTS),
прежде известного как Международный журнал томографии и статистики
(ISSN 0973-7294; 0972-9976) - издание рецензируемых, хорошо написанных
оригинальных научных статей, которые описывают последнее достижения
и события в компьютерной томографии и моделировании. Журнал также
охватывает много потенциальных приложений, применений и связей с
другими областями науки и технологии.

Журнал IJTS - рецензируемый и индексируется Скопусом
(Библиографические
базы данных Elsevier), Zentralblatt MATH (Европейское Математическое
общество), базами: Статистическая теория и методы (STMA-Z), getCITED,
Newjour, Current Index to Statistics (CIS), SCImago Journal & Country
Rank, IndexCopernicus, International Statistical Institute (ISI,
Netherlands) Journal Index, Academic keys, Ulrich's Periodicals
Directory, Indian Science Abstracts, Math-jobs.com Journal Index,
JournalSeek.

Области интереса включают, но не ограничены следующими:

Компьютерная томография,
Статистическое отображение и томография,
Обработка и реконструкция изображений,
Обработка сигнала,
Магнитно-резонансная томография (МРТ) и изображение (МРИ),
Позитронно-эмиссионная томография (ПЭТ),
Решение обратной задачи,
Реконструкция, восстановление и повышение четкости изображений,
Сегментация и классификация изображений,
Распознавание лица и анализ выражения лица,
Человеко-машинный интерфейс,
Получение изображения и калибровка,
Анализ образов,
Виртуальный мир и реальность,
Извлечение особенностей и обнаружение,
Нейронные сети,
Обработка речи,
Телекоммуникации,
Фильтры, алгоритмы, видеокодирование и создание водяных знаков,
Обработка и анализ видео,
Моделирование данных и визуализация,
Географические информационные системы (ГИС) и геофизическая
томография,
Моделирование и управление,
Сейсмология,
Биомедицина,
Искусственный интеллект,
Образование, базы данных и базы знаний,
Интернет и приложения,
Параллельные и распределенные вычисления,
Приложения междисциплинарной природы.

Особенно приветствуются приложения для обработки сигналов и
изображений с анализом Фурье или вейвлет-анализом. Международный
журнал томографии и моделирования издается ежегодно, один том, три
выпуска зимой, летом и осенью, публикуется CESER.

Авторы должны представить электронную копию их неопубликованной и
оригинальной рукописи с сопроводительным письмом к:

Dr. Tanuja Srivastava
Editor-in-Chief, International Journal of Tomography & Statistics
Department of Mathematics
Indian Institute of Technology,
Roorkee-247667,
INDIA.
Email: tanujfma[at]yahoo.com

Мы настоятельно рекомендуем подавать рукописи по электронной почте.
Публикация бесплатна.

Формат рукописей

Пожалуйста пошлите свою рукопись как единственный файл, включая
таблицы и рисунки. Это означает, это должен быть один файл
Microsoft Word и ничего более. Статья должна содержать не более
5000 слов и должна содержать:

- Сопроводительное письмо: письмо должно сопровождать рукопись как
часть тела сообщения электронной почты. Сопроводительное письмо
должно опознать человека (адрес, номера телефона и адрес электронной
почты), ответственного за корреспонденцию, касающиеся рукописи.

- Работа должна содержать название, имена авторов, место работы,
адрес email
- аннотация
- Ключевые слова (5 штук)
- Mathematics Subject Classification
- Основной текст
- Ссылки
- Все страницы должны быть без номеров страниц, текста заголовка и
текста нижней сноски

---------------------------------------------------------------
| Институт инженеров по электротехнике и радиоэлектронике
| The Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE
| Вступаем здесь: http://www.ieee.org/join
---------------------------------------------------------------

В соответствии с обычной практикой, ранее изданные статьи и те, что
находятся на рассмотрении для публикации в другом месте, не могут быть
приняты, и авторы должны согласиться не публиковать принятые работы
в другом месте без разрешения журнала. Если в рукопись должны быть
включены ранее изданные таблицы, иллюстрации или более чем 50 слов
текста, тогда держатель авторского права должен дать письменное
разрешение. Копии любых таких писем разрешения должны быть приложены к
рукописи. Все рукописи рецензируются.

Соответствующий автор получит PDF файл статьи через электронную почту.
Этот файл - только для личного использования и не может быть
скопирован
и распространен в любой форме без предварительного письменного
разрешения журнала. Печатная копия журнала будет отправлена только
подписчикам. Одна копия одного выпуска журнала доступна по специальной
скидке только для авторов.

Научно-исследовательские работы должны сопровождаться аннотацией,
которая появится перед главным текстом. Она должна быть написана
целостно и должна суммировать цели, методы, результаты и заключения
в объеме не более 250 слов. Аннотация должна быть доступна для
понимания читателям прежде, чем они прочитают сокращения, цитаты и
математические уравнения, Примечаний нужно избежать.

Авторы ответственны за точность ссылок. Ссылки в тексте должны быть
процитированы с именем автора и годом публикации. Если у работы больше
двух авторов, пожалуйста используйте "и др.". Можно включить изданные
статьи и те, что готовятся к публикации. Ссылки должны быть напечатаны
в конце рукописи в алфавитном порядке, с фамилиями и инициалами
авторов. Ссылки должны включать: имена авторов, год, название
работы, название журнала, том, номер выпуска, номера страниц и
наименование и адрес издателей (только для книг). Ссылки должны
поэтому быть перечислены следующим образом:

O.V. Stukach, International Siberian Conference on Control and
Communications SIBCON-2011: Antennas and Propagation Magazine, IEEE.
April 2012. Vol. 54. Issue 2, 121-122.

Стукач, Олег Владимирович. Программный комплекс Statistica в решении
задач управления качеством: учебное пособие для вузов. Национальный
исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ). -
Томск, Изд-во ТПУ, 2011.

Andrey S. Goponenko, Vladislav A. Kochumeev, Vladimir P. Pushkarev,
Arman B. Mirmanov, Oleg V. Stukach. Experimental Investigations of
Characteristics of X-Band Pulse Generator Based on Gunn Diode.
2013 International Siberian Conference on Control and Communications
(SIBCON). Proceedings. Krasnoyarsk: Siberian Federal University.
Russia,
Krasnoyarsk, September 12-13, 2013.

Таблицы должны быть очевидными и включать описание или название.
Иллюстрации должны быть ясно читаемыми и высокого качества.
Благодарности и сноски должны быть включены в конце текста.
Любая сноска должна быть идентифицирована числами.

Редакционная коллегия

Главные редакторы:

R. K. S. Rathore
Professor,
Department of Mathematics,
Indian Institute of Technology,
Kanpur-208016, INDIA
E-mail: eic.ijts[at]yahoo.com

и

Tanuja Srivastava
Professor,
Department of Mathematics,
Indian Institute of Technology,
Roorkee-247667, INDIA
E-mail: tanujfma[at]yahoo.com

Редакторы:

Alejandro Murua, University of Montreal, Canada
Alexander G. Ramm, Kansas State University, USA
Amit K. Roy Chowdhury, University of California, USA
Andrew Reader, University of Manchester, UK
Arie Harel, City University of New York, USA
Belur V. Dasarathy, EIC of Information Fusion, USA
Bogdan G. Nita, Montclair State University, USA
Bowei Xi, Purdue University, USA
C. Muralidhar, Defence R&D Laboratory, Hyderabad, India
Davide La Torre, University of Milan, Italy
D. Jude Hemanth, Karunya University, India
Edmund Lam, University of Hong Kong, Hong Kong
Fang Yong, Shanghai University, China
Florentin Smarandache, University of New Mexico, USA
Habib Zaidi, Geneva University Hospitals, Switzerland
Hongwei Li, Capital Normal University, China
Joao Manuel R. S. Tavares, University of Porto, Portugal
Ketut Wikantika, Institute of Technology Bandung (ITB), Indonesia
Khan M. Iftekharuddin, The University of Memphis, USA
Lahrech Samir, Mohamed first University, Morocco
Loubes Jean-Michel, Universite de Montpellier, France
Manuchehr Soleimani, University of Manchester, UK
Mark Girolami, University of Glasgow, UK
Mihail Yu. Kokurin, Mary State University Yoshkar-Ola, Russia
Mohsen Ashourian, Majlesi Branch, Islamic Azad University, Iran
Omer Demirkaya, Biomedical Physics-KFSH&RC, Saudi Arabia
Othman O. Khalifa, International Islamic University, Malaysia
Peltonen Sari, Tampere University of Technology, Finland
Prabhat Munshi, Indian Institute of Technology, Kanpur, India
Qinghua Qin, Australian National University, Australia
Radu-Emil Precup, University of Timisoara, Romania
Raj Madhavan, National Institute of Standards and Technology, USA
Renato M. Natal Jorge, University of Porto, Portugal
S. Ramakrishnan, Dr.Mahalingam College of Engg. & Tech.,Pollachi,
India
Sergei V. Pereverzyev, Johann-Radon-Institute, Austria
Sri Widiyantoro, Bandung Institute of Technology, Indonesia
Taufiquar Khan, Clemson University, USA
Victor Sreeram, University of Western, Australia
Wen Chen, Hohai University, China
Xiaoli Li, University of Birmingham, UK
Xiaoping Shen, Ohio University, Athens, USA
Xue-Cheng Tai, University of Bergen, Norway
Yuchuan Wei, University of Iowa, USA
Zuowei Shen, National University of Singapore, Singapore

================ Join the IEEE! So good. So useful. ================
Oleg Stukach
President and Founder http://chapters.comsoc.org/tomsk
Tomsk IEEE Chapter & Student Branch еmаil ieee[at]main.tusur.ru
TPU, CAMSAM Dept., 30 Lenin Avenue, Tomsk, 634050, Russia
====================================================================





.

В избранное