Технологии и оборудование в производстве электроники
Результаты первого участия ООО «Совтест АТЕ» в выставке «Экспоконтроль»
Контроль качества и испытание изделий электроники – именно та область, в которой ООО «Совтест АТЕ» является экспертом. Это подтверждает не только доверие потребителей и 20-летний опыт работы компании на рынке, но и результаты
участия в специализированной выставке «Экспоконтроль-2012». На стенде «Совтест АТЕ» традиционно были представлены лучшие решения от ведущих зарубежных производителей – Nikon (Япония), TIRA (Германия), Ideal Aerosmith (США), Vibration Research (США), а также собственные разработки специалистов «Совтест АТЕ»,
что обеспечило экспозиции компании постоянное внимание со стороны посетителей мероприятия.
Профессиональные консультации, возможность изучить оборудование и
даже попробовать протестировать собственные образцы непосредственно во
время выставки позволили посетителям стенда «Совтест АТЕ»
подобрать оптимальное решение для выполнения своих производственных
задач – будь то измерение, испытание или контроль. Надежность и высокое
качество предлагаемого оборудования стали еще одной причиной,
обеспечившей стенду компании высокую популярность.
В рамках экспозиции «Совтест АТЕ» на выставке «Экспоконтроль-2012» были представлены: ∙ видеоизмерительная система iNexiv VMA2520 (Nikon) ∙ стереомикроскопа SMZ-745T(Nikon) ∙ цифрового
микроскопа ShuttlePix (Nikon) ∙ климатическая камера TCC7025 (TIRA) ∙ вибрационный стенд TV51120 (TIRA) ∙ система управления VR9500
(Vibration Research) ∙ поворотный стол 1291 BR (Ideal Aerosmith) ∙ тестер микросхем FT-17HF («Совтест АТЕ») ∙ усилитель мощности («Совтест АТЕ»)
По сравнению с прошлым годом площадь выставки «Экспоконтроль-2012»
увеличилась на 65%, что было вызвано ростом количества компаний-участников. По статистике – это порядка 70 предприятий из России, Великобритании, Нидерландов, США, Швейцарии, Германии. ООО «Совтест АТЕ»
впервые вошло в их число, однако учитывая интерес, проявленный к стенду
компании со стороны посетителей, в следующем году будет представлено
еще больше решений в области контроля, испытания и измерения изделий
электроники.