Технологии и оборудование в производстве электроники
Итоги участия ООО «Совтест АТЕ» в выставке NDT-2012
В четыре раза больше посетителей по сравнению с прошлым годом – таковы результаты участия ООО «Совтест АТЕ» в 11-ой международной выставке и конференции «Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности-2012» (NDT).
Подобная востребованность стенда компании была обусловлена следующими
факторами: актуальность предложенных решений, демонстрация возможностей
оборудования, бесплатные консультации экспертов в области неразрушающего
контроля, а также качество и надежность продукции Nikon Metrology,
которая и составила основу экспозиции «Совтест АТЕ».
Принимая участие в выставке NDT во второй раз и учитывая опыт прошлого года, специалисты «Совтест АТЕ»
смогли добиться максимальной эффективности от мероприятия. На стенде
компании были представлены передовые решения в области неразрушающего
контроля по следующим направлениям: ∙ Микроскопия (цифровой микроскоп ShuttlePix, тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T); ∙ Промышленная рентгеноскопия и компьютерная томография (промышленные рентгеновские томографы серии XT H, рентгеноскопические системы серии XT V) ∙ Видеоизмерительный контроль (видеоизмерительная
система iNexiv VMA2520)
Живой интерес посетителей NDT-2012 вызвала возможность непосредственно на стенде «Совтест АТЕ»
провести исследование своих образцов с помощью современных микроскопов
от ведущего зарубежного производителя оптического оборудования NIKON (Япония). При этом высокие технические характеристики цифрового микроскопа ShuttlePix и тринокулярного стереомикроскопаSMZ-745T
позволили провести исследование изделий практически из любых отраслей
промышленности (Рис.1). В их число вошли металлообработка,
машиностроение, микроэлектроника, материаловедение, прикладные
исследования и др., что в очередной раз подтверждает широкую сферу
применения данного оборудования: от промышленных предприятий до
научно-исследовательских лабораторий и институтов.
Рис.1 Примеры изображений, полученные во время исследования образцов посетителей выставки NDT-2012
Развитие партнерских отношений с Nikon Metrology
позволило не только открыть отечественным потребителям доступ к
современному и надежному оборудованию, но и предоставить возможность
одновременно с зарубежными потребителями получать информацию о последних
новинках в области неразрушающего контроля. Так, в ближайшее время на
выставке «ЭкспоЭлектроника-2012», которая пройдет с 11 по 13 апреля в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо», состоится демонстрация видеоизмерительной системы iNexiv VMA2520. На практике оценить преимущества данного оборудования Вы сможете, посетив экспозицию ООО «Совтест АТЕ» (Павильон 1, Зал 2, Стенд А05).
