7 июля 2009 года в офисе компании ООО <<Совтест АТЕ>> прошел практический семинар, на тему: <<Новые возможности внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками Seica>>.
В офисе компании
ООО «Совтетст АТЕ» прошел семинар, на тему: «Новые возможности
внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками Seica»
7 июля 2009 года в офисе компании ООО «Совтест АТЕ» прошел практический семинар, на тему: «Новые возможности внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками Seica».
Цель семинара – обмен опытом между Заказчиками и повышение эффективности использования тестеров с подвижными пробниками Seica.
На семинаре были освещены следующие темы:
1. Линейка тестеров с подвижными пробниками фирмы Seica;
2. Была раскрыта тема новых опций для тесторов Seica;
3. Селективная лазерная пайка FireFly фирмы Seica;
4. Использование ремонтной станции для отслеживания дефектов.
5. Сервис
В рамках семинара была проведена демонстрация оборудования:
внутрисхемный тестер с подвижными пробниками Pilot VIP; ПО «Программная
станция», ПО «Ремонтная станция». В семинаре принимали участие
Заказчики, которые уже эксплуатируют данное оборудование.