Отправляет email-рассылки с помощью сервиса Sendsay
  Все выпуски  

В период с 1 по 11 декабря ООО «Совтест АТЕ», на базе Центра «Сборки изделий нано- и микросистемной техники» ГОУ ВПО «МИЭТ», завершило установку и ввод в эксплуатацию оборудования, предназначенного для функционального контроля изделий микроэлектроники.


Успешное завершение второго этапа по созданию современного участка тестирования микроэлектроники в “МИЭТ” (Зеленоград)


           В период с 1 по 11 декабря ООО «Совтест АТЕ», на базе Центра «Сборки изделий нано- и микросистемной техники» ГОУ ВПО «МИЭТ», завершило установку и ввод в эксплуатацию оборудования, предназначенного для функционального контроля изделий микроэлектроники.


          Данное оборудование включает в себя систему функционального и параметрического контроля микросхем UltraFLEX фирмы Teradyne Inc. (США) и зондовую установку для контроля микросхем на пластине UF200A фирмы Accretech, (Япония). Данные системы пополнили список уже находящегося в эксплуатации в МИЭТ оборудования (до этого была введена в эксплуатацию система рентгеноскопической инспекции XD7600NT.

          Система функционального контроля микросхем UltraFLEX предназначена для проверки как корпусированных микросхем, так и микросхем на пластине. В этом случае система UltraFLEX стыкуется с зондовой установкой UF200A, которая, в свою очередь, осуществляет контактирование с полупроводниковой пластиной.


           UltraFLEX включает в себя набор инструментов, позволяющих проводить как высокоскоростное цифровое тестирование на скоростях до 1Гбит/сек, так и аналоговое тестирование (при частоте аналогового сигнала до 150 МГц) больших интегральных микросхем (БИС).

Оригинальная статья находится по адресу -http://www.sovtest.ru/news.php?id=137



ООО «Совтест АТЕ»
Россия, 305000, г.Курск, ул. Володарского, 49 
тел.: (4712) 54-54-17, 73-04-90 
факс: (4712) 56-35-50 
Москва: (495) 231-35-63 ∙ Санкт-Петербург: (812) 740-71-42
info@sovtest.ruwww.sovtest.ru
 

В избранное